E+H超聲波物位計FMU30*

E+H超聲波物位計FMU30*

超聲波物位計主要的安裝方式有兩種，一個是頂部安裝，一個是底部安裝，超聲波物位計采用的也是液體導聲，超聲探頭安裝在料罐底部外，超聲波從底部傳入，經被測液體傳播到液面，反射后傳回探頭。傳播時間與液位的高低成正比。[2]

微波物位計以光速傳播，速度幾乎不受介質特性的影響，傳播衰減也很小，約0.2dB/km.回波信號強弱很大程度上取決于被測液面上的反射情況。在被測液面上的反射率除了取決于被測物料的面積和形狀外，主要取決于物料的相對介電常數εr.相對介電常數高，反射率也高，得到的回波強度高;相對介電常數低，物料會吸收部分微波能量，回波強度較低。
超聲波物位計的應用概況

在現場實際運用時，會有各種因素對其穩定、可靠的測量產生影響，下面我們將結合實際，講述各種干擾對超聲波物位計選用、使用、安裝的影響。超聲波流量計

(1)介質及環境溫度的影響

超聲波從物料表面反射時，其反射頻率會受到物料溫度的影響而發生變化，為了補償這一變化，超聲波探頭內裝有溫度傳感器，當探頭向處理器發送反射信號的同時，也把溫度信號送到微處理器，處理器將自動補償由于溫度對料位測量的影響。

此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環境溫度不超過60℃。

(2)攪拌器對物位計測量的影響

如果物料容器內裝攪拌器，它同樣會反射超聲波信號，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據統計學原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當降低攪拌器的轉速，或將探頭偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產生的假面反射對料位測量的影響。

(3)超聲波物位計測量料位的極限值

1)zui高料位

當一束超聲波脈沖向物料表面傳送過程中，若收到從物料表面來的反射波，將無法進行測量，這段距離就是盲區。物料zui高料位不得高于盲區。

2)zui低料位

zui低料位也就是使超聲波能到達的距離傳感器的zui遠距離，并且使反射回波能被傳感器接收。由于超聲波在傳播過程中的衰減以及物料表面對聲波的吸收，這一傳播距離對物料性質依賴性很強，對于DU33來說，可測液體范圍為25m，固體范圍為15m。

總之，只要儀表選型、安裝適當，超聲波物位計的應用效果還是比較滿意的。

5 結束語

超聲波類儀表(超聲波流量計)是現代科學技術在工業測量中的具體運用，是電子技術和聲學原理相結合的產物。比起常規儀表，它們的智能化更高，應用的技術更先進，也給用戶帶來更大方便。

公司歷史
1953年2月1日，瑞士工程師Georg H. Endress與德國銀行家Ludwig Hauser在德國Lrrach創建了L. Hauser KG 公司--即今天Endress+Hauser公司的前身。
公司zui開始是銷售一種英國產的新型電容式物位傳感器，今天我們可以稱之為"車庫公司"，盡管它當初的辦公室只是由一間臥室改建的。
這種新型傳感器很快取得了成功，公司的兩位創始人迅速地開始構建他們自己的生產設施，從此，銷售額持續增長。這時的銷售范圍，已經由早期主要集中在德國南部擴展到整個德國以及周邊國家。他們開始經營電容式以外的其他不同原理的物位傳感器產品。后來，其他測量領域的產品也開始研發、生產和銷售，比如壓力、流量、溫度等等。銷售和服務開始遍及整個西歐，并于20世紀70年代在美國和日本成立了*海外辦事處。
20世紀80年代，公司開始致力于應對"微電子技術"的挑戰，并取得了技術上的優勢。隨著過程自動化由"信號導向"轉向"信息導向"，驅使E+H積極參與不同現場總線協議的研發，今天，它已經在該領域成為之一。
1995年，71歲的h.c. Georg H. Endress博士正式將公司的管理權移交給他的長子Klaus Endress，在這之前，Klaus Endress就已經擔任公司的zui高執行總裁。
總部位于瑞士的E+H公司在過去的十年里不斷發展，如今成為專業為過程工業自動化提供傳感器的制造商，為整個過程行業提供自動化解決方案和各種類型傳感器的化。公司成立54年后的今天，E+H在全部六大洲都設有分支機構，范圍內擁有7,000多名員工，共同為市場上zui復雜的工業傳感器系列提供廣泛的生產、銷售和服務。

公司總部
E+H公司，由瑞士工程師Georg H. Endress和德國銀行家Ludwig Hauser創建于1953年，總部位于瑞士Reinach, 地處德國、瑞士和法國的交界處,先后在德國、瑞士、法國、美國、日本、中國等世界工業國成立了規模龐大的生產中心，雇員達到 6,077名，擁有70個獨立的子公司分布在，2006年，銷售額達到了10億歐元。

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